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Wie misst man die Phasenverschiebung im Nahfeld?
Die Phasenverschiebung im Nahfeld kann mit Hilfe von Interferenzmustern gemessen werden. Dazu werden zwei oder mehrere Antennen oder Sonden verwendet, die in einem bestimmten Abstand voneinander platziert werden. Durch die Beobachtung der Interferenzmuster kann die Phasenverschiebung zwischen den Signalen gemessen werden. Alternativ kann auch die Phasenverschiebung durch die Verwendung von Phasenmessgeräten oder Oszilloskopen gemessen werden. **
RIGOL NFP-3 - Nahfeld-Sonden-Set, 30 MHz - 3 GHz
Geeignet für EMV Tests bei Voruntersuchungen verwendbar mit allen Rigol Spektrumanalysatoren und Oszilloskopen. Frequenzbereich 30 MHz bis 3 GHz Set aus 4 Sonden Minimale Auflösung 2 mm Das Set enthählt: NFP-3-P1 (Test-Bereich innerhalb 10 cm, Lokalisieren des Streufeldes) NFP-3-P2 (Test-Bereich innerhalb 3 cm, genauen Test des Streufeldes) NFP-3-P3 (Auflösung ca. 5 mm, Test der elektromagnetischen Streuverlustes) NFP-3-P4 (Auflösung ca. 2 mm, zum Test des Magnetfelds in vertikaler Richtung und der elektromagnetischen Felder) Die Lieferzeit kann bis zu 7 - 14 Werkatge in Anspruch nehmen.
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AAR PBS1 - Sondenset, Nahfeld, passiv, DC 1 Hz ... 9 GHz
Passives Hochleistungs-Probe-Set mit sehr breitem Frequenzbereich bis 9 GHz. Hohe Genauigkeit, integrierter Stativanschluss für perfekte Ausrichtung. Das Aaronia EMV-Probe-Set, das mit jedem Spektrumanalyzer, Oszilloskop oder Messempfänger verwendet werden kann, ermöglicht die einfache Lokalisierung und Messung von Störquellen von DC 1 Hz - 9 GHz in elektronischen Baugruppen sowie die Durchführung und Überwachung von verschiedenen EMV-Messungen. Alle Probes sind mit einer Isolierschicht versehen, die sichere Messungen an Oszillatoren und Netzleitungen ermöglicht. Perfekt zur Lokalisierung von Störquellen, die für in einem Gutachten gemäß EN 55011, EN55022 oder EN50371 (Klasse A oder B) aufgeführt werden müssen. Auch die Überwachung entsprechender Entstörungsmaßnahmen ist problemlos möglich. So können teure und zeitintensive Labormessungen (z.B. zwecks Neubeurteilung nach Überarbeitung der Schaltung) umgangen werden. 5 verschiedene Nahfeld-Sonden zur Messung von H- und E-Feldern, die optimale Empfindlichkeit und räumliche Auflösung in verschiedenen Frequenzen bieten bedeckt mit einer Isolierschicht für sichere Messungen sehr handliches Design inkl. gummierten Griff sehr kleine Größe - perfekt für exakte Ortung von Störquellen, ermöglicht den Zugang zu kleinsten Feldern integrierte elektrostatische Abschirmung zur Gleichtaktunterdrückung kann mittels Signalgenerator zur Erzeugung von Feldern für Störfestigkeitstests verwendet werden Gewinn steigt sehr linear mit der Frequenz, was eine hohe Genauigkeit bietet typische Standard Kalibrierdaten und Excel-Tabelle für die Umrechnung von dBm in V/m und A/m (auf CD) oder als kostenlose App im Apple Store extra weiter Frequenzbereich bis 9 GHz geeignet für Feldstärke- und EMV-Messungen durch hohe Präzision inklusive Stativ-Anschluss für perfekte Ausrichtung und Reproduzierbarkeit Lieferumfang: 50 mm Magnetfeld-Probe EMV-Sonde, 25 mm Magnetfeld-Probe EMV-Sonde, 12 mm Magnetfeld-Probe EMV-Sonde, 6 mm Magnetfeld-Probe EMV-Sonde, direktionale E-Feld EMV-Probe/Sonde, Aluminium-Transportkoffer mit Schaumstoffeinlagen, Pistolengriff mit Mini-Stativ-Funktion, SMB- auf SMA-Kabel (1 m), typische Kalibrierdaten und Excel-Tabelle zur Umrechnung von dBm in V/m, A/m, G und T (auf CD) Technische Daten: HF-Probe-Set für jeden Spektrumanalyzer oder Messempfänger geeignet Bauform: passive H- und E-Feld-Probe Frequenzbereich: DC (1 Hz) - 9 GHz Nominalimpedanz: 50 Ohm Gewinn: Abhängig von der Probe (siehe Datenblatt) Antennenwandlungsmaß: abhängig von der Probe (siehe Datenblatt) HF-Anschluss: SMB (m) oder SMA über Adapter Stativanschluss: 1/4" Achtung: Die durchschnittliche Lieferzeit des Artikels kann bis zu 14 Werktage in Anspruch nehmen.
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Freiform-Optiken im Nahfeld von LEDs, Taschenbuch von Simon Wendel, KIT Scientific Publishing, 978-3-7315-0251-7Freiform-optiken Im Nahfeld Von Leds, Taschenbuch Von Simon Wendel, Kit Scientific Publishing, 978-3-7315-0251-7, Seitenanzahl: 22246,00 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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